在通常情況下，粒度分布測(cè)試就是要得到顆粒在單體狀態(tài)下的分布狀態(tài)，而粉體中的顆粒常常有聚團(tuán)現(xiàn)象，因此要進(jìn)行分散處理。粒度測(cè)試方法有激光法、沉降法、篩分法、電阻法、圖像法等。在粒度測(cè)試中不需要對(duì)樣品進(jìn)行分散的方法有費(fèi)式法、超聲波法、X射線小角散射法等。